“I Workshop de Difração de Raios X do Centro de Microscopia do Sul na FURG”

09 a 13 de novembro de 2015

Inscrições abertas de 19 de outubro a 02 de novembro de 2015 neste link: http://www.sinsc.furg.br/detalheseventos/331

Palestrantes:   

Dr. João Cardoso de Lima - Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC).

Dr. Claudio Michel Poffo - Universidade Federal de Santa Catarina (UFSC).

A caracterização estrutural de materiais é fundamental para entender e/ou aprimorar suas propriedades físicas (elétricas, térmicas, magnéticas, ópticas e mecânicas), tendo em vista inúmeras aplicações tecnológicas.

Um dos métodos de caracterização de materiais do Centro de Microscopia Eletrônica do Sul da Universidade Federal do Rio Grande é a difração de raios X. Esta técnica é amplamente utilizada para análise estrutural das fases presentes em materiais cristalinos. Nesses materiais, os átomos se ordenam em planos cristalinos separados entre si por distâncias da mesma ordem de grandeza do comprimento de onda dos raios X incidentes. Com isso, é possível obter um padrão de difração de raios X, característico de cada material cristalino.

Uma importante ferramenta de análise desses dados é o uso do método Rietveld, tanto para difração de raios X como para difração de nêutrons. Esse método é amplamente reconhecido e utilizado para fazer o refinamento de estruturas cristalinas, considerando todo o padrão de difração medido para gerar outro padrão calculado, e obter informações sobre as fases cristalinas presentes e as suas proporções relativas.

Este evento irá promover um mini-curso com sessões teóricas (10 h) e práticas (10 h) sobre a técnica de difração de raios X e o método Rietveld de análise de estruturas cristalina de materiais, destinado a alunos de graduação e pós-graduação que tenham interesse no tema.

A fundamentação teórica básica sobre cristalografia, difração de raios X e o método Rietveld será apresentada nas sessões teóricas. Nas sessões práticas, serão feitas análises de estruturas cristalinas de materiais, através do método Rietveld, utilizando o software livre GSAS (General Structure Analysis System), disponível em: http://www.ccp14.ac.uk/solution/gsas/

O conteúdo programático do mini-curso será:

Geração de raios-X. Difração de raios-X em materiais. Descrição de um cristal e suas redes (Redes de Bravais). Lei de Bragg. Índices de Miller. Fator de estrutura de materiais cristalinos. Exemplos de materiais cristalinos, semi-cristalinos, nanocaristalinos e amorfos. Refinamento estrutural de materiais cristalinos através do Método de Rietveld.

Local:  Universidade Federal do Rio Grande – Detalhes em breve

Cronograma do evento: