“Introdução ao Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) e Microanálises de Raio X (EDS)”

Palestrante: Dr. Breno Leite, PhD – Cientista de Aplicações da JEOL USA Inc. Peabody, MA.

Data: 14 de Janeiro de 2016
Horário: 9-12 horas
Local: Cidec-Sul (Sala Estuários)
Inscrições: no local

 

           O Centro de Microscopia Eletrônica do Sul (CEME-SUL - FURG) convida para a palestra intitulada “Introdução ao Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) e Microanálises de Raio X (EDS)” que será ministrada pelo Dr. Breno Leite, Cientista de Aplicações da JEOL. Serão abordados aspectos sobre a utilização dos equipamentos Microscópio Eletrônico de Varredura (JSM - 6610LV) e Detector de microanálise de Raio X (EDS), disponíveis no CEME-SUL.

         A técnica de microscopia eletrônica é uma importante ferramenta para caracterização de materiais biológicos e inorgânicos. Informações importantes sobre a nova fase da microscopia moderna (Alto e Baixo Vácuo) e também de aplicações do EDS. 
         O público alvo será alunos de graduação, pós-graduação, técnicos e docentes da FURG e outras instituições da região.